เครื่องยิงอนุภาคไอออนสำหรับงานเตรียมตัวอย่างกล้องจุลทรรศน์ ยี่ห้อ ไลก้า รุ่น Leica EM RES102 Ion Beam Milling

เครื่องสามารถทำให้ตัวอย่าง บาง สะอาด ขัด ตัดความยาวและจัดโครงสร้างได้ด้วยระบบความยืดหยุ่นสูงสุด  เอกลัษณ์ ion beam milling ที่ไม่เหมือนใคร ร่วมกับการเตรียมตัวอย่าง สำหรับ TEM SEM และ LM ใน benchtop ซึ่งมีที่ใส่ตัวอย่างที่หลากหลายสำหรับแอพพลิเคชั่นที่ต่างๆ นอกจาก ion beam milling พลังงานสูง เครื่อง Leica EM RES102  สามารถทำงานได้อย่างนุ่มนวลโดยใช้พลังงานต่ำขณะเตรียมตัวอย่าง

Archived Product

This item has been phased out and is no longer available. Please contact us using the button below to enquire about recent alternative products that may suit your needs.

Thin, clean, polish, cut slopes and structure your samples with the highest level of flexibility in the Leica EM RES102. The unique ion beam milling system combines the preparation of TEM, SEM and LM samples in one single benchtop unit.

A variety of sample holders allows a diverse range of applications to be carried out. In addition to high-energy ion beam milling, the Leica EM RES102 can also be used for very gentle sample processing using low ion energy.

For research use only